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TO封装集成电路老化测试插座

TO封装集成电路老化测试插座 该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用,连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、 镀银、镀镍等工艺,该插座、缘性能好,经久耐用,深... ...

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单排IC集成电路老化测试座

单排IC集成电路老化测试座 该系列插座适用于DIP封装的单排直插式集成电路的老化、测试、筛选及性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯 ...

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DIP封装集成电路老化测试插座

DIP封装集成电路老化测试插座 该系列插座适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯 ...

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SOT23贴片晶体管老化测试夹具

SOT23贴片晶体管老化测试夹具 该系列夹具适用于SOT23封装的片状晶体管的老化、测试、筛选及性试验作连接之用。产品 广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯. ...

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Flat Pack封装集成电路老化测试夹具

Flat Pack封装集成电路老化测试夹具(IC测试治具) 该系列夹具适用于FPQ封装的片状集成电路及阻容器件的老化、测试、筛选及性试验作连 接之用。产品广泛运用于航空航天、、科研院所... ...

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SOP芯片电路老化测试夹具

SOP芯片电路老化测试夹具 该系列夹具适用于SOP封装的片状集成电路的老化、测试、筛选及性试验 作连结之用。产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯。 ...

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芯片电路老化测试夹具

芯片电路老化测试夹具 该系列夹具供贴片封装的CMOS、PMOS集成电路的老化、测试、筛选作连结之用(间距1.27mm)。 ...

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金手指插座

金手指插座 该插座与印制线路板配合使用,也可供电子设备及整机作连结线路之用(CLY402-20K插座的接点间距为4mm,CLY401插座接点中心间距为3.96mm). ...

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通讯滤波器测试插座 该系列插座适用于通信滤波器的波形测试、老化、筛选及性试验作连接之用。该产品广

通讯滤波器测试插座 该系列插座适用于通信滤波器的波形测试、老化、筛选及性试验作连接之用。该产品广泛用于航空航天、、科研院所、电子、通讯。 ...

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陶瓷插座

陶瓷插座 该陶瓷插座用于金属壳集成电路、双列直插式集成电路及晶体管老化、测试、筛选作连结之用,连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、 镀银、镀镍等工艺,该插座、缘性能好,经久... ...

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TO-封装晶体管插座

TO-封装晶体管插座 该插座适用于TO-系列金属壳封装的晶体管,可供三脚晶体管的高、低温老化、筛选及性能测试作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯。 ...

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TO-39封装晶体管插座

TO-39封装晶体管插座 该插座适用于TO-39系列金属壳封装的晶体管,可供三脚、四脚晶体管的高、低温老化、筛选及性能测试作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯。 ...

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TO-220封装晶体管插座

TO-220封装晶体管插座 该插座适用于TO-220系列封装的晶体管,可供三脚、四脚晶体管、塑封管的高、低温老化、筛选及性能测试作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、... ...

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TO-92、94封装晶体管插座

TO-92、94封装晶体管插座 该插座适用于TO-92、94系列封装的晶体管,可供三脚、四脚晶体管、塑封管的高、低温老化、筛选及性能测试作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、... ...

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发光二管插座

发光二管插座 该插座适用于TO系列封装的发光二管、激光管,可供二脚晶体管、塑封管的高、低温老化、筛选及性能测试作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯。 ...

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晶体管老化测试座

晶体管老化测试座 该插座适用于TO-92、94、39、220、TO-3、TO-等系列封装的晶体管,可供二脚、三脚、四脚晶体管、塑封管的高、低温老化、筛选及性能测试作连接之用。该产品广泛运用于航空... ...

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LJZ型双列集成电路老化测试插座

LJZ型双列集成电路老化测试插座 该系列插座适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯 产品型... ...

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